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國儀量子技術(合肥)取得電子探測裝置和掃描電鏡專利,可提高背散射電子和二次電子的分離度和收集效率

2024-08-31科學

金融界 2024 年 8 月 30 日訊息,天眼查智慧財產權資訊顯示,國儀量子技術(合肥)股份有限公司取得一項名為「電子探測裝置和掃描電鏡「,授權公告號 CN118098914B,申請日期為 2024 年 4 月。

專利摘要顯示,本發明公開了一種電子探測裝置和掃描電鏡,電子探測裝置包括:反射式能量分析器,包括沿電子束入射方向依次設定的第一控制電極和第二控制電極,第一控制電極用於與第二控制電極之間產生第一電場;第一探測器,設定在第二控制電極遠離第一控制電極的一側;第二探測器,設定在第一控制電極遠離第二控制電極的一側;導電遮蔽管,沿電子束入射方向貫穿第一控制電極和第二控制電極設定,用於遮蔽反射式能量分析器產生的電場,以允許電子束穿過並入射至目標樣品;第一電場用於將二次電子引導至第一探測器。該電子探測裝置可提高背散射電子和二次電子的分離度和收集效率。