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X射線以創紀錄精度洞察微芯片「內心」

2024-08-15科學

【X射線以創紀錄精度洞察微芯片「內心」】財聯社8月9日電,瑞士保羅謝勒研究所、洛桑聯邦理工學院、蘇黎世聯邦理工大學和美國南加州大學科學家合作,首次使用X射線,以4納米超高精度觀測了先進電腦微芯片的「內心」,創造了新的世界紀錄。研究團隊制作的高分辨率三維影像,有望推動資訊科技和生命科學等領域取得顯著進展。相關論文發表於新一期【自然】雜誌。研究團隊指出,這項技術不限於洞察微芯片的「內心」,還能為生命科學等領域的樣品內部精確成像,從而推動相關領域的進一步發展。(科技日報)